L'augmentation constante du nombre de techniques d'imagerie et d'analyse permet maintenant d'obtenir une multitude d'informations complémentaires pour caractériser un échantillon (topographie, microstructure, composition élémentaires, composition moléculaire, cristallographie…). Cependant, la spécificité d'un objet peut impliquer de devoir obtenir toutes les informations sur une seule et même structure, et à différentes échelles. C'est alors qu'interviennent les problèmes de repositionnement et de relocalisation (ou recalage).
Le repositionnement consiste à replacer un objet dans un système de manière reproductible puis à le bouger à l'aide d'une platine de déplacement afin de retrouver une zone particulière déjà étudiée. Malheureusement, le repositionnement n'est pas toujours possible pour des raisons instrumentales ou parce que l'on cherche à identifier une structure particulière n'ayant pas encore été observée sur l'échantillon étudié. L'approche générale consiste alors à réaliser des images à différentes échelles de façon à disposer de zones de recouvrement suffisamment larges pour pouvoir reconnaitre la zone d'intérêt à partir de structures caractéristiques originelles (trous, fissures...) ou artificielles (gravures, traits de feutre...). On parle alors de relocalisation ou de recalage.
Le recalage se fait par traitement d'images par redimensionnement, rotation et déformation. Ces opérations mathématiques peuvent être réalisées à l'aide de logiciels "généralistes" tel que MATLAB où avec des logiciels plus dédiés, et donc optimisés pour certaines applications, tel que le plugin ec-CLEM d'ICY. A noter que le plugin ec-CLEM d'ICY, s'il a été initialement développé pour la CLEM, permet le recalage de n'importe quel type de fichiers images, en 2D, 2D/3D et en 3D.
L'objectif de cette journée est de discuter et d'échanger sur les problématiques de repositionnement et de relocalisation, mais également de s'initier au recalage d'images sous MATLAB et ICY.
La date limite pour s’inscrire est fixée au vendredi 27 octobre
