La microscopie à sonde de Kelvin (KFM) est une technique bien établie et couramment utilisée pour la mesure locale du potentiel à la surface d'un échantillon. Cet outil présente un intérêt majeur pour la caractérisation des propriétés physiques des matériaux. Cependant, le KFM présente quelques sources d'erreurs inhérentes à cette utilisation conventionnelle comme la dépendance du potentiel de surface avec les paramètres expérimentaux (amplitude d'excitation, boucle de contre-réaction, distance pointe-échantillon). De nouveaux modes de mesures sont apparus ces dernières années principalement induites par l'amélioration des performances de l'analyse multi-fréquences et de l'acquisition rapide de signaux. Citons par exemple, les quelques méthodes existantes : la modulation d'amplitude (AM-KFM), la modulation de fréquence (FM-KPFM) ou encore les méthodes multifréquences (DH-KFM pour dual harmonique, DFRT-EFM pour dual frequency resonant tracking). Ces méthodes permettent de s'affranchir partiellement voire totalement des artefacts cités plus haut.
Nicolas Chevalier et Denis Mariolle du CEA Grenoble proposent une formation sur l'utilisation de l'électronique de Zurich Intruments pour faire de la KFM en single pass. L'avantage étant l'universalité de l'équipement et l'adaptation à toutes les plateformes actuelles. Łukasz Borowik propose également un atelier sur la mesure de photo-potentiel par KFM sous ultra-vide. L'atelier débutera avec un cours de Thierry Mélin de l'Institut d'Electronique, de Microélectronique et de Nanotechnologies (Villeneuve d'Ascq).
Il est impératif de se pré-inscrire en écrivant à Nicolas Chevalier (nicolas.chevalier[at]cea.fr)
Dates limite d'inscription 27 octobre 2016
