DFRT KFM Single Pass

from to (Europe/Paris)
at CEA LETI
CEA-LETI-MINATEC Bâtiment des Objets Communicants pièce C151 3 Parvis Louis Néel 38054 Grenoble
Description

La microscopie à sonde de Kelvin (KFM) est une technique bien établie et couramment utilisée pour la mesure locale du potentiel à la surface d'un échantillon. Cet outil présente un intérêt majeur pour la caractérisation des propriétés physiques des matériaux. Cependant, le KFM présente quelques sources d'erreurs inhérentes à cette utilisation conventionnelle comme la dépendance du potentiel de surface avec les paramètres expérimentaux (amplitude d'excitation, boucle de contre-réaction, distance pointe-échantillon). De nouveaux modes de mesures sont apparus ces dernières années principalement induites par l'amélioration des performances de l'analyse multi-fréquences et de l'acquisition rapide de signaux. Citons par exemple, les quelques méthodes existantes : la modulation d'amplitude (AM-KFM), la modulation de fréquence (FM-KPFM) ou encore les méthodes multifréquences (DH-KFM pour dual harmonique, DFRT-EFM pour dual frequency resonant tracking). Ces méthodes permettent de s'affranchir partiellement voire totalement des artefacts cités plus haut.

Nicolas Chevalier et Denis Mariolle du CEA Grenoble proposent la deuxième édition de la formation sur l'utilisation de l'électronique de Zurich Instruments pour faire de la KFM en single pass. L'avantage étant l'universalité de l'équipement et l'adaptation à toutes les plateformes actuelles. Łukasz Borowik propose également un atelier sur la mesure de photo-potentiel par KFM sous ultra-vide. L'atelier débutera avec un cours de Thierry Mélin de l'Institut d'Electronique, de Microélectronique et de Nanotechnologies (Villeneuve d'Ascq).


  1. Il est impératif de se pré-inscrire immédiatement en écrivant à Nicolas Chevalier (nicolas.chevalier[at]cea.fr)
  2. Dès que votre candidature sera sélectionnée, vous devez accompagner votre inscription par la photocopie de votre carte d'identité (ou votre passeport). Ce document vous sera demandé pour entrer au CEA et doit être le même.
  3. Dates limite d'inscription 15 octobre 2017
Material:
Go to day
  • Tuesday, 7 November 2017
    • 09:15 - 09:45 Accueil des participants
      Conveners: Mr. Denis Mariolle (CEA), Mr. Nicolas Chevalier (CEA)
    • 09:45 - 11:45 Cours KPFM
      Convener: Mr. Thierry Mélin (IEMN)
      Material: Transparents pdf file
    • 11:45 - 12:00 Pause
    • 12:00 - 12:30 Présentation des modes d’acquisition en KFM
      Convener: Mr. Nicolas Chevalier (CEA)
    • 12:30 - 14:00 Buffet
    • 14:00 - 16:00 Travaux Pratiques A: Atelier EFM avec ZI (D. Mariolle) / Atelier KFM SPV (L. Borowik)
    • 16:00 - 16:30 Pause café
    • 16:30 - 18:00 Travaux Pratiques A: Atelier KFM SPV (L. Borowik)/ Atelier KFM avec ZI (N. Chevalier)
    • 19:00 - 22:00 Diner
  • Wednesday, 8 November 2017
    • 09:00 - 09:40 Suivie de résonance: méthodes à fréquences multiples
      Convener: Mr. Romain STOMP (ZI)
      Material: Présentation ZI pdf file
    • 09:40 - 10:00 Pause café
    • 10:00 - 12:30 Travaux Pratiques A: Atelier KFM SPV (L. Borowik)/ Atelier KFM avec ZI (N. Chevalier)
    • 12:30 - 14:00 Déjeuner
    • 14:00 - 16:00 Défriefing: Compléments d’analyse, échantillons participants
      Convener: Mr. Nicolas Chavalier (CEA)