Journée Nanomécanique en Champ Proche

Europe/Paris
Bâtiment 5 - CC 05007 (Montpellier)

Bâtiment 5 - CC 05007

Montpellier

CTM - LMCP Université de Montpellier 860, rue Saint Priest 34095 Montpellier Cedex 5
Description

Au-delà de l'observation topographique, la microscopie à force atomique (AFM) permet d'étudier les propriétés mécaniques (élasticité, adhésion, friction) à l'échelle nanométrique. Depuis ses débuts il y a trente ans, l'ensemble de ces études a donné naissance à une discipline à part entière : la nanomécanique. Cette discipline est de la plus grande importance dans de nombreux domaines scientifiques ou industriels (sciences des polymères, biologie cellulaire, microélectronique...). Cependant, à ce jour, la nanomécanique fournit des résultats essentiellement qualitatifs, et plus particulièrement lorsqu'il s'agit d'estimer l'élasticité locale.

De nombreux efforts ont été développés ces dernières années afin de rendre les mesures quantitatives. Il existe à l'heure actuelle un véritable "zoo" d'acronymes utilisés pour distinguer les nombreux modes statiques ou dynamiques de l'AFM qui diffèrent (ou pas) de manière subtile. Presque tous ont une chose en commun : ils obtiennent un contraste de l'image en analysant la faible force existant entre la surface analysée et une fine pointe située à l'extrémité d'un bras de levier flexible. Comprendre et contrôler les forces à l'échelle du nanomètre est un problème scientifique de grande importance et concerne une grande variété d'applications technologiques. Les progrès acquis dans ce domaine et le développement de nouveaux matériaux vont de pair avec la mise au point d'outils de plus en plus performants et sensibles ainsi que de méthodes plus précises pour mesurer correctement les forces présentes à la surface.

Accès LMCP
AtomicJ
Hôtels conseillés
Plan TRAM
    • 08:30 09:15
      Accueil

      Accueil des participants autour d'un café et de viennoiseries

      Présidents de session: Mme Marie Capron, M. Michel Ramonda
    • 09:15 10:45
      Cours : Mesure par AFM de la raideur de contact sur matériaux élastiques rigides: de quoi parle-t-on ? Quelles sont les domaines de validité et les limites (actuelles) ?
      • rappel sur le contact de Hertz et le principe de l'indentation, cas du comportement élastique anisotrope du matériau,
      • domaines de validité des modèles de type Hertz, Sneddon et Flat punch,
      • utilisation de la courbe d'approche (PF-QNM) ou de retrait (QI) ? Comparaison avec les mesures de type CR-AFM,
      • calibration : comment et peut-on s’en passer ?
      • effet de la topographie de la surface et de la profondeur de mesure par rapport aux effets de surface (lié en particulier à la préparation des échantillons).
      Président de session: M. Olivier Arnould
      Présentation
    • 10:45 11:05
      Pause café 20m
    • 11:05 12:35
      Cours : Mesures quantitatives des propriétés mécaniques de matériaux mous
      Président de session: M. Philippe Leclère
      Présentation
    • 12:35 14:00
      Pause déjeuner 1h 25m
    • 14:00 15:00
      Présentation des participants

      Présentation des problématiques des participants

      Présidents de session: Mme Florence Marchi, M. Nicolas Delorme
    • 15:00 17:00
      Table ronde
      Présidents de session: Mme Florence Marchi, Mme Marie Capron, M. Michel Ramonda, M. Nicolas Delorme, M. Olivier Arnould, M. Philippe Leclère